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無損檢測與光電測量儀器

判斷涂層測厚儀的測量結(jié)果是否準(zhǔn)確要從這幾方面著手

文章附圖

判斷涂層測厚儀的測量結(jié)果是否準(zhǔn)確,需要一個系統(tǒng)性的過程,包括前期校準(zhǔn)驗(yàn)證、中期正確操作和后期定期核查。

您可以遵循以下步驟和方法來進(jìn)行綜合判斷:

一、 前期準(zhǔn)備:校準(zhǔn)與驗(yàn)證(這是準(zhǔn)確性的基礎(chǔ))

這是最關(guān)鍵的一步,確保儀器本身和測量方法在開始就是對的。

  1. 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)(Calibration)零點(diǎn)校準(zhǔn):在測量前,務(wù)必先在相同材質(zhì)的、未涂覆的基材上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)(或稱為“基材補(bǔ)償”)。這可以消除基材材質(zhì)、表面粗糙度、曲率等對測量結(jié)果的影響。

    • 多點(diǎn)校準(zhǔn):如果測量范圍較寬,建議在高、中、低不同厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行校準(zhǔn)。很多高級儀器支持兩點(diǎn)或多點(diǎn)校準(zhǔn),這能大大提高全量程的準(zhǔn)確性。

  2. 使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行驗(yàn)證

    • 校準(zhǔn)后,不要直接用在工作上。應(yīng)使用另一套(或至少另一個值)經(jīng)認(rèn)證的厚度標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行驗(yàn)證。

    • 測量標(biāo)準(zhǔn)片,看讀數(shù)是否在標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值的允許誤差范圍內(nèi)。標(biāo)準(zhǔn)片的材質(zhì)應(yīng)盡量與您的基材相同。

    • 結(jié)論:如果驗(yàn)證通過,說明儀器目前狀態(tài)是準(zhǔn)確的。每次重要測量前都應(yīng)進(jìn)行此操作

  3. 確認(rèn)標(biāo)準(zhǔn)片和基材的匹配性

    • 磁性原理(測量非磁性涂層如油漆、塑料 on 鋼鐵基材):標(biāo)準(zhǔn)片的基材必須是鋼(Fe)。

    • 渦流原理(測量絕緣涂層如陽極氧化層、漆 on 非鐵金屬如鋁、銅):標(biāo)準(zhǔn)片的基材必須與您的基材相同(如鋁)。

    • 超聲波原理(測量多層涂層或非金屬基材上的涂層):需使用與待測涂層聲阻抗匹配的標(biāo)準(zhǔn)片。

二、 中期操作:確保測量方法正確(避免人為誤差)

即使儀器準(zhǔn)了,操作不當(dāng)也會導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)。

  1. 清潔表面:確保被測表面和探頭接觸區(qū)域沒有灰塵、油污、指紋、粗糙的附著物。這些雜質(zhì)會嚴(yán)重影響讀數(shù)。

  2. 保持壓力穩(wěn)定:探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)地壓在被測表面,力度適中且一致。不要搖晃、傾斜或用力過猛。

  3. 注意基材特性

    • 基材厚度:如果基材太?。▽τ诖判?渦流原理),會產(chǎn)生“邊緣效應(yīng)”或“基材厚度不足”的誤差。通常要求基材厚度大于儀器規(guī)定的最小臨界厚度。

    • 基材曲率:在 curved surface(曲面)上測量時,曲率越小,誤差可能越大。應(yīng)使用針對曲面專門校準(zhǔn)的探頭或儀器,并使用相同曲率的基材進(jìn)行校準(zhǔn)。

    • 表面粗糙度:粗糙的基材或涂層表面會導(dǎo)致讀數(shù)波動很大。應(yīng)在多個點(diǎn)測量取平均值,并先在粗糙度相當(dāng)?shù)奈赐扛不纳线M(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)。

  4. 測量次數(shù)與位置:根據(jù)規(guī)范作業(yè)指導(dǎo)書,在單個區(qū)域測量多次(通常3-5次)并取平均值。在整個工件表面多點(diǎn)、有代表性地測量,以避免局部差異誤判為儀器誤差。

三、 后期核查:定期溯源與維護(hù)

  1. 定期送檢:將您的測厚儀和標(biāo)準(zhǔn)片送至國家計(jì)量院(NIM)或授權(quán)的第三方計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)進(jìn)行定期檢定/校準(zhǔn)(通常每年一次)。他們會出具正式的檢定證書,確保您的儀器量值可溯源至國家標(biāo)準(zhǔn),這是最權(quán)威的準(zhǔn)確性證明。

  2. 檢查儀器狀態(tài):注意電池電量是否充足,低電量可能導(dǎo)致讀數(shù)漂移。檢查探頭是否磨損或損壞。

四、 結(jié)果比對與分析(交叉驗(yàn)證)

如果對某個關(guān)鍵讀數(shù)有懷疑,可以采用以下方法進(jìn)行交叉驗(yàn)證:

  1. 使用另一臺經(jīng)過校準(zhǔn)的測厚儀:用另一臺儀器在相同點(diǎn)測量,對比結(jié)果。

  2. 破壞性測試(**驗(yàn)證方法)

    • 使用橫截面顯微鏡法(Cross-section microscopy):切割樣品,鑲嵌、拋光后,在顯微鏡下直接觀察和測量涂層厚度。這是最準(zhǔn)確、最權(quán)威的方法,常用于仲裁和實(shí)驗(yàn)室。

    • 使用金相法電解法測厚儀。

    • 注意:破壞性測試會損壞工件,通常只用于抽樣驗(yàn)證和實(shí)驗(yàn)室分析。


    CM-8826中文產(chǎn)品應(yīng)用及特點(diǎn).png

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